32Si measurement using low-level scintillation spectrometry / U. Morgenstern, R.G. Ditchburn.
Збережено в:
| Опубліковано: |
Lower Hutt, N.Z. :
Institute of Geological & Nuclear Sciences Ltd.,
1997.
|
|---|---|
| Автор: | |
| Співавтор: | |
| Інші автори: | |
| Серія: | Institute of Geological & Nuclear Sciences science report ;
97/35. |
| Предмети: | |
| Формат: | Книга |
EPS Library, Level 1
|
Шифр
Примірник
Loan Type
Статус
Розмістити замовлення
|
|||||
