32Si measurement using low-level scintillation spectrometry / U. Morgenstern, R.G. Ditchburn.
Zapisane w:
| Wydane: |
Lower Hutt, N.Z. :
Institute of Geological & Nuclear Sciences Ltd.,
1997.
|
|---|---|
| 1. autor: | |
| Korporacja: | |
| Kolejni autorzy: | |
| Seria: | Institute of Geological & Nuclear Sciences science report ;
97/35. |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Format: | Książka |
EPS Library, Level 1
|
Sygnatura
Egzemplarz
Loan Type
Status
Zamów
|
|||||
