32Si measurement using low-level scintillation spectrometry / U. Morgenstern, R.G. Ditchburn.
שמור ב:
| יצא לאור: |
Lower Hutt, N.Z. :
Institute of Geological & Nuclear Sciences Ltd.,
1997.
|
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| מחבר תאגידי: | |
| מחברים אחרים: | |
| סדרה: | Institute of Geological & Nuclear Sciences science report ;
97/35. |
| נושאים: | |
| פורמט: | ספר |
EPS Library, Level 1
|
סימן המיקום
עותק
Loan Type
סטטוס
ביצוע הזמנה
|
|||||
