Inside the TOEIC exam / by Donald Van Metre and the staff of Kaplan Test Prep and Admissions.

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Editie:	2nd ed.
Gepubliceerd in:	New York : Kaplan Publishing, c2008.
Hoofdauteur:	Van Metre, Donald
Coauteur:	Kaplan Test Prep and Admissions
Onderwerpen:	Test of English for International Communication > Study guides. English language > Textbooks for foreign speakers. English language > Examinations > Study guides. English language > Business English > Examinations > Study guides.
Formaat:	Boek

Central Library, Level 4

Exemplaargegevens van Central Library, Level 4
Plaatsingsnummer Kopie Loan Type Status Plaats een reservatie
PE 1128 .V262 2008 AU17102863B For loan Beschikbaar Plaats een reservatie