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Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits /
द्वारा
Sachdev, Manoj
प्रकाशित 2007
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Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing /
द्वारा
Rajsuman, Rochit
प्रकाशित 1992
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Hierarchical modeling for VLSI circuit testing /
द्वारा
Bhattacharya, Debashis, 1961-
प्रकाशित 1990
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Introduction to VLSI testing /
द्वारा
Feugate, Robert J., 1946-
प्रकाशित 1988
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Rapid reliability assessment of VLSICs /
प्रकाशित 1990
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Unified methods for VLSI simulation and test generation /
द्वारा
Cheng, Kwang-Ting, 1961-
प्रकाशित 1989
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VLSI testing /
प्रकाशित 1986
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VLSI : testing & validation techniques /
प्रकाशित 1985
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पुस्तक
8 परिणाम
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पुस्तकालय
EPS Library
8 परिणाम
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प्रकाशन का वर्ष
से:
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प्रस्तावित विषय :
Integrated circuits
8 परिणाम
8
Testing
Very large scale integration
Computer simulation
2 परिणाम
2
Data processing
2 परिणाम
2
Circuits
1 परिणाम
1
Computer-aided design
1 परिणाम
1
Defects
1 परिणाम
1
Design and construction
1 परिणाम
1
Electronic digital computers
1 परिणाम
1
Fault-tolerant computing
1 परिणाम
1
Metal oxide semiconductors, Complementary
1 परिणाम
1
Reliability
1 परिणाम
1
सभी देखें…
भाषा
English
8 परिणाम
8
लेखक
Agrawal, Vishwani D., 1943-
1 परिणाम
1
Bhattacharya, Debashis, 1961-
1 परिणाम
1
Cheng, Kwang-Ting, 1961-
1 परिणाम
1
Dorey, A. P.
1 परिणाम
1
Feugate, Robert J., 1946-
1 परिणाम
1
Hayes, John P. (John Patrick), 1944-
1 परिणाम
1
McIntyre, Steven M., 1958-
1 परिणाम
1
Pineda de Gyvez, José
1 परिणाम
1
Rajsuman, Rochit
1 परिणाम
1
Reghbati, Hassan K.
1 परिणाम
1
Sachdev, Manoj
1 परिणाम
1
Sachdev, Manoj. Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits
1 परिणाम
1
Williams, T. W.
1 परिणाम
1
सभी देखें…
बोधानक
T – प्रौद्योगिकी
8 परिणाम
8
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