X-ray stress measurement by the back-reflection camera technique : a thesis presented for the degree of Master of Engineering in Mechanical Engineering in the University of Canterbury, Christchurch, New Zealand / by A. L. Rutledge.

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Gepubliceerd in: 1970.
Hoofdauteur:
Rutledge, A. L. (Anthony Leonard)
Onderwerpen:
Materials > Testing
Strains and stresses.
X-rays > Industrial applications.
Formaat: Thesis Boek
X-ray stress measurement by the back-reflection camera technique : a thesis presented for the degree of Master of Engineering in Mechanical Engineering in the University of Canterbury, Christchurch, New Zealand /
Plaats een aanvraag op een titel

Macmillan Brown Library Storage, Thesis Collection, Request for use in MB Library

Exemplaargegevens van Macmillan Brown Library Storage, Thesis Collection, Request for use in MB Library
Plaatsingsnummer Kopie Loan Type Status Plaats een reservatie
Thesis (Mechanical Engineering) copy 1 AU03408299B
 Library use only Beschikbaar Plaats een reservatie

EPS Library, Level 3

Exemplaargegevens van EPS Library, Level 3
Plaatsingsnummer Kopie Loan Type Status Plaats een reservatie
TA 417.25 .R981 1970 AU05932505B
 For loan Beschikbaar Plaats een reservatie

Gelijkaardige items